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雙物鏡白光干涉儀

簡要描述:中圖儀器SuperView W1雙物鏡白光干涉儀的復合型EPSI重建算法,解決了傳統相移法PSI掃描范圍小、垂直法VSI精度低的雙重缺點。在自動拼接模塊下,只需要確定起點和終點,即可自動掃描,重建其超光滑的表面區域,不見一絲重疊縫隙。

  • 更新時間:2023-04-13
  • 產品型號:SuperView W1
  • 廠商性質:生產廠家
  • 訪  問  量:900

詳細介紹

品牌CHOTEST/中圖儀器產地類別國產
應用領域化工,能源,冶金,航天

中圖儀器推出的SuperView W1白光干涉儀可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級工件的微觀幾何輪廓、粗糙度、平整度、曲率等,可廣泛應用于3C電子玻璃屏及其精密配件、汽車零部件、半導體制造及封裝工藝檢測、光學加工、微納材料及制造、MEMS器件等超精密加工行業及航天、高??蒲性核阮I域中。


在少數需要檢測超精密器件表面全貌的場景中,SuperView W1雙物鏡白光干涉儀的自動拼接功能,能快速實現大區域、高精度的測量。

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如一款旋轉拋物面零件,其表面有高反、超光滑、凹面弧形特征,用于微小位移和角度檢測。針對其凹面弧形的檢測需求,原子力顯微鏡和共聚焦顯微鏡這兩個顯微測量儀器中,均分別因有損測量或分辨率不夠的原因而排除,只有以白光干涉為原理的光學3D表面輪廓儀,能同時滿足無損、超高分辨率、耐高反等條件。


旋轉拋物面零件.jpg


針對完成樣品超光滑凹面弧形掃描所需同時滿足的高精度、大掃描范圍的需求,中圖儀器SuperView W1雙物鏡白光干涉儀的復合型EPSI重建算法,解決了傳統相移法PSI掃描范圍小、垂直法VSI精度低的雙重缺點。在自動拼接模塊下,只需要確定起點和終點,即可自動掃描,重建其超光滑的表面區域,不見一絲重疊縫隙。

EPSI重建算法.jpg


深圳市中圖儀器科技有限公司致力于精密計量、檢測儀器設備的研發、生產和銷售?,F擁有2千平方米的現代化科研辦公場地及3千平方米的精密加工、裝配基地,配備了科研設施和精密加工設備,按照ISO9001標準進行生產,為客戶提供高質量產品。



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